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真實(shí)發(fā)生在身邊的事
李醫(yī)生,知名三甲醫(yī)院主任醫(yī)師,最近接診了一位來(lái)自湖南的智力低下患兒。
不明原因智力低下,艱難求索12年
孩子自出生后就有明顯的智力低下,12年來(lái)到處求醫(yī)問(wèn)診,檢查報(bào)告摞在一起都有一米高了,但還是未能查出病因。
曾經(jīng)有醫(yī)生根據(jù)孩子明顯的智力低下、特殊面部特征表型,懷疑其是脆性X綜合征(Fragile X Syndrome,F(xiàn)XS),但因?yàn)閭鹘y(tǒng)PCR-Southern blot檢測(cè)方法的靈敏度不足而未能明確診斷,因而只能對(duì)小孩子進(jìn)行行為恢復(fù)治療,效果非常不理想。
通過(guò)問(wèn)診,李醫(yī)生了解到,隨著小男孩成長(zhǎng),除了智力低下等表型,又陸續(xù)出現(xiàn)了青春期大睪丸表型,因此李醫(yī)生仍高度懷疑小男孩可能是FXS患兒,并選擇ACMG推薦的三引物法對(duì)母子二人進(jìn)行了檢測(cè)。結(jié)果顯示:母親是FXS前突變攜帶者(n=36/69),患兒是FXS全突變的患者(n=111/835)。
終于確診了男孩是FXS患者,但這個(gè)確診結(jié)果卻遲來(lái)了12年。
李醫(yī)生表示,對(duì)于不明原因智力低下患兒, 盡早確診至關(guān)重要!如果早一點(diǎn)確診,早一點(diǎn)得知可以利用GABA-inhibitor等藥物進(jìn)行癥狀緩解,干預(yù)的效果肯定會(huì)更好!
脆性X綜合征到底是什么疾???
脆性X綜合征,是最常見的X染色體連鎖的單基因性智力低下綜合征,其發(fā)病率僅次于先天愚型(唐氏綜合征)。絕大多數(shù)病例是由于X染色體上FMR1(脆性X精神發(fā)育遲滯1)基因三核苷酸重復(fù)序列(CGG)不穩(wěn)定擴(kuò)增,所導(dǎo)致的FMRP蛋白合成減少或缺失所致。
根據(jù)FMR1基因序列的CGG重復(fù)數(shù)目(n),分為正常型(n<45)、中間型(n=45~54)、前突變型(n=55~200)、全突變型(n>200)。
其中,前突變和全突變型有嚴(yán)重的臨床表現(xiàn),且男性和女性患者的臨床癥狀不同。
為什么FXS用傳統(tǒng)方法查不出來(lái)?
一方面是由于致病基因的CGG重復(fù)數(shù)較高(835),超出了傳統(tǒng)方法Southern blot的檢測(cè)極限;
另一方面,三引物法能檢測(cè)少量全部變嵌合,而Southern blot無(wú)法檢測(cè)到。
母親為癥狀較輕的前突變攜帶者,兒子為何病癥很嚴(yán)重?
這要從FXS的遺傳方式說(shuō)起。
引起脆性X綜合征的原因主要是由于FMR1基因調(diào)控序列CGG重復(fù)次數(shù)增加。前突變攜帶者母親基因序列的CGG重復(fù)數(shù)(n)越大,導(dǎo)致全突變患兒出生的可能性越大。當(dāng)前突變攜帶者母親的CGG重復(fù)數(shù)為100-200時(shí),下代有98%的概率為全突變,從而表現(xiàn)出嚴(yán)重的智力相關(guān)癥狀。
在產(chǎn)前進(jìn)行FXS篩查,非常有必要!如果早幾年推行這種高效的檢測(cè)技術(shù),母親得知自己是前突變攜帶者,生育時(shí)有很大可能轉(zhuǎn)化為全突變遺傳給子女,一旦懷孕,可以通過(guò)產(chǎn)前診斷,確定胎兒的攜帶情況,完全可以避免全突變患兒的出生。
此外,前突變攜帶者還有卵巢早衰的可能,那么就應(yīng)該及早生育,而患兒母親第一胎時(shí)年近40。現(xiàn)在50歲了,即便想要二胎,但由于卵巢早衰,她的再次孕育之路也是艱辛和充滿未知的。
母親為攜帶者時(shí),雖然后代有發(fā)展為全突變的高風(fēng)險(xiǎn),但仍有機(jī)會(huì)生育正常后代。比如當(dāng)前突變攜帶者母親的CGG重復(fù)數(shù)為55-59時(shí),下代為全突變的概率僅為4%。
而任何“看起來(lái)”正常的夫婦,也有可能生育患有FXS的寶寶。所以,凡是擔(dān)心會(huì)生育FXS綜合征的備孕夫婦、或者是已孕夫婦,尤其是家族中有FXS患者、或者是卵巢早衰、震顫-共濟(jì)失調(diào)成員,或者不明原因智力低下、發(fā)育遲緩、自閉癥等,都應(yīng)該進(jìn)行FXS的攜帶者篩查。利用最新的三引物法,可以準(zhǔn)確判斷女性純合/雜合狀態(tài),并可以檢出極低比例的嵌合(1%),明確攜帶者狀態(tài)。
面對(duì)智力發(fā)育異常患兒,我們可以做的更多!
李醫(yī)生表示,在他的臨床工作中,接診了非常多的智力發(fā)育異常患兒。然而,其中絕大部分都無(wú)法查明原因,最終被認(rèn)定為不明原因智力低下,臨床上非??释环N系統(tǒng)全面的解決方案,除了FXS,還可以查明更多智力發(fā)育異常的發(fā)病原因。
貝瑞基因推出的IDD Solution 智力發(fā)育異常系統(tǒng)解決方案,僅需2mL的外周血,三種檢測(cè)技術(shù)聯(lián)合,共同出擊,當(dāng)您面對(duì)不明原因智力低下患兒時(shí),為您提供一個(gè)系統(tǒng)的異常問(wèn)題排查方案,并對(duì)疑似陽(yáng)性提供產(chǎn)前診斷。
貝全安全外顯子組測(cè)序(WES)
全外顯子組測(cè)序可測(cè)出單堿基突變及外顯子區(qū)域少于50個(gè)堿基插入缺失所導(dǎo)致的疾病原因 , 陽(yáng)性率高于傳統(tǒng)芯片檢測(cè)。貝全安全外顯子組測(cè)序(WES)一次性檢出基因小片段異常導(dǎo)致的智力發(fā)育異常和自閉癥;
科諾安染色體疾病檢測(cè)(CNV-seq)
科諾安染色體微缺失/微重復(fù)檢測(cè)(CNV-Seq),依托自建的一百萬(wàn)中國(guó)人群基因組大數(shù)據(jù)庫(kù),可一次性檢出100kb以上染色體異常導(dǎo)致的智力發(fā)育異常和自閉癥。
脆性X綜合征(FXS)致病基因檢測(cè)
國(guó)際推薦三引物法,降低假陰性,可測(cè)出CNV與WES之外約6%的智力低下原因。
山東成武貝斯特實(shí)驗(yàn)器材有限公司主要生產(chǎn)采血卡、DNA采血卡、新生兒疾病篩查采血卡、血樣采集卡、全民健康體檢卡、口腔細(xì)胞采集卡等產(chǎn)品,量大從優(yōu)、廠家直銷。聯(lián)系電話:15554087788微信同號(hào)(信息來(lái)源于網(wǎng)絡(luò))